| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規格 | CSD-17-100-2UH | 供貨周期 | 一個月以上 |
| 主要用途 | 半導體 | 應用領域 | 電子 |
| 品牌 | 哈默納科 | 用途 | 半導體 |
| 材質 | 鋼 | 是否進口 | 是 |
磁粉探傷方法種類很多，適用于焊縫探傷的方法主要有連續磁化法。此法應在外加磁場存在的條件下，施加磁粉進行觀察分析。哈默納科試片檢測機諧波齒輪CSD-17-100-2UH使用的磁粉可分為干、濕兩種，濕法是把干磁粉棍和在某種溶液(例如水、煤油等》中翩成懸浮液稱為磁懸濃。磁粉的種類有黑磁粉、紅磁粉積熒光磁粉等數種。外加1場可以用直流電、交流龜和電磁鐵(磁扼)來建立。
磁粉探傷檢出缺陷的能力，對于表面或表層內的裂紋類缺隋的尺寸可達數量級。在探傷操作過程中通常用靈敏度試片或試塊表征探傷靈敏度，在探傷操作中，為了檢查工藝的穩定性、探傷劑質髦等因素決定的探傷靈敏度，通常用靈敏度試片來測速試片和零件一起參與樁個操作過程，用
試片上所能顯示的已知缺陷(裂紋寬和探度)的程度來代表零件的探傷靈敏度。靈敏度試片可由硬鋁沐裂或浪鉻層掃L械開裂制作，裂紋的寬度和深度根要求較制，在目前實際應用的無損探傷方法中，并不能全部準確地發現所有的焊接缺陷，哈默納科試片檢測機諧波齒輪CSD-17-100-2UH檢測出來的缺隋也不一定*如實反映實際缺陷的特性和尺寸。
無損探傷難以做到不漏檢缺陷，原因主要有二方面，一是技術性方面的誤差;另一方面是非技術性的誤差
